四点プローブ

私たちの四点プローブは、半導体研究および製造における正確な測定とテストに不可欠です。精度と一貫性を重視して設計されており、信頼性の高いデータ収集と分析を確保します。 優れたテスト精度のために、私たちの四点プローブについてさらに詳しく学んでください。

AIT

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Alessi – コンパクトプローブ

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CDE ResMap

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円柱型四点プローブ

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KLA Tencor Prometrix

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ナプソン

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ナプソンミニチュア

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Veeco – リード付きカートリッジ

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MPPの4PPは、以下のようなアプリケーションで一般的に使用されています:

シリコンウェーハの抵抗率測定
エピタキシャル層、イオン注入層、および拡散層の4点測定
金属およびその他の薄膜の4点測定

MPPのプローブヘッドの特徴と利点:

ルビーガイドを使用したピンの低摩擦運動
広範囲のプローブ先端半径と針間隔
個別の針圧調整（50〜200グラム）
低リーク電流で高い破壊電圧
タングステンカーバイドまたは
オスミウム合金の針先
さまざまなプローブヘッドデザイン（Fell、アルミニウムなど）
追加のカスタマイズオプション
リファービッシュプログラムの提供

4点プローブのリーディングサプライヤー

MPPは、ウェーハおよび薄い導電性フィルムの抵抗率測定用の四点プローブ（4PP）ヘッドのリーディングサプライヤーであり、40年の経験と専門知識を持っています。すべてのプローブ部品（ボディ、配線、針）は、MPPの高精度カスタマイズ設備で社内生産され、組み立ておよびテストも社内で行われます。

私たちのプローブヘッドは、世界中で最も有名なウェーハ抵抗測定機器—KLA Tencor、Kokusai、Napson、その他の卓上機器で数年間使用されています。私たちは次のことを提供します:

最高の動的性能を持つ高品質な4点プローブヘッド
高精度および再現性
厳格なQC/QAアプローチ
短いリードタイム
認証済みの再生品オプション
優れたエンジニアリングおよび製品サポート
最高のコストパフォーマンスソリューション